显微镜

2022年卡塔尔世界杯北京时间SGS聚合物解决方案包含有几十年的经验在显微镜测试和分析一系列产业和应用程序。

我们提供光学、电子和扫描探针显微镜。

专家,独立显微镜测试与分析服务。

现代显微镜让我们获得的图像对象,无法用肉眼看到。光学显微镜分析的三个主要分支,电子,和扫描探针显微镜。

未知样品的形态特征,我们从最简单的方法开始的光学显微镜(OM)、10 - 2500 x的放大,使用透射光(亮视场)透明和半透明的样品或反射光为不透明的样品。

获得更高的放大或更高的分辨率,微、纳米、分子水平,我们使用透射电子显微镜(TEM)、扫描电镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)。我们选择显微镜方法根据应用程序需求和样本的特征。

显微镜方法提供一种理解和描述材料的结构特性微观和纳米尺度。提供的高的放大传输和电子扫描探针显微镜提供价值识别和评估的变量会导致不良的特征,或用来解释在最终产品性能优越。通常,OM和SEM是第一个工具用来评估一个表面在一个失败的一部分,以帮助确定失败的原因,比如是否韧性或脆弱的方式失败的一部分。

高分辨率显微镜测试广泛应用于材料科学、聚合物复合材料、颗粒分析、纳米技术和半导体的研究。SGS PSI频繁使用显微镜的方法来测试:

• 纳米材料
• 纺织品
• 电影
• 涂料
• 模具零件
• 和许多其他材料

显微镜方法和方法

SGSψ是一个显微镜测试实验室拥有25年的经验在以下方法:

光学显微镜(OM)使用可见光来放大一个样本区域10 - 2500 x。这种显微镜分析技术通常是第一个使用额外的显微镜测试之前。

透射电子显微镜法(TEM)使用电子束通过一个非常薄的切片标本,并从电子密度的差异对比生成。染色可用于增加对比度。该方法用于研究聚合物和生物结构与纳米分辨率。

扫描电子显微镜(SEM)扫描样品表面的高度聚焦电子束获得表面图像。扫描电镜可以加上能量色散谱(EDS)测定样品的元素组成。

原子力显微镜(AFM)使用一个机械悬臂与尖端扫描平面试样表面最高分辨率纳米的一小部分。它可以在环境条件下工作。

光学双折射是用来评估现有机械应力在透明材料。样品检查cross-polarizing过滤器之间的非破坏性的方式。

图像分析允许我们的科学家提取有意义的信息,比如尺寸和几何形态特征,从微观图像。

显微镜的应用和经验