显微镜

原子力显微镜(AFM)是一个分析工具用于测量材料的模量和高度的差异在纳米尺寸范围。

原子力显微镜的主要用途是描述nano-phase形态或表面粗糙度。也是一个很好的工具,分析microphase分离嵌段共聚物的相形态系统或其他纳米级产品。

方法

许多样品需要一个定制的方法适应AFM的方法。我们的科学家们开发一个适当的经验和教育背景的方法,以确保可靠的结果。

样品注意事项

样品必须固定在一个平的底物。因为最大扫描高度大约10µm样品也必须很平坦区域内扫描。

样品通常只有1厘米1厘米的面积和厚度5毫米或更少。

联系我们讨论你的特定示例的考虑和测试需求。

经验

我们所做的工作:

表面粗糙度
相分离
表面老化研究
纳米颗粒分散